La fonctionnalité de recherche est en construction.
La fonctionnalité de recherche est en construction.

The original paper is in English. Non-English content has been machine-translated and may contain typographical errors or mistranslations. ex. Some numerals are expressed as "XNUMX".
Copyrights notice

The original paper is in English. Non-English content has been machine-translated and may contain typographical errors or mistranslations. Copyrights notice

Novel Techniques for Improving Testability Analysis Nouvelles techniques pour améliorer l’analyse de testabilité

Yin-He SU, Ching-Hwa CHENG, Shih-Chieh CHANG

  • Vues en texte intégral

    0

  • Citer

Résumé:

Le but d'un programme d'analyse de testabilité est d'estimer la difficulté de tester un défaut. Une bonne mesure peut donner une alerte précoce sur le problème de test afin de fournir des conseils pour améliorer la testabilité d'un circuit. Des recherches ont tenté de calculer efficacement l'analyse de testabilité. Parmi ceux-ci, la procédure de contrôlabilité et d'observabilité COP peut calculer efficacement la valeur de testabilité d'un défaut coincé dans un circuit structuré en arborescence, mais peut être très imprécise pour un circuit général. L'imprécision du COP est due à la méconnaissance des corrélations des signaux. Récemment, l'algorithme de TAIR dans [5] propose un algorithme d'analyse de testabilité, qui part du résultat du COP puis améliore progressivement le résultat en appliquant un ensemble de règles. L'ensemble de règles de TAIR peut capturer certaines corrélations de signaux et les résultats de TAIR sont donc plus précis que ceux de COP. Dans cet article, nous prouvons d'abord que les règles de TAIR peuvent être remplacées par une formulation fermée. Ensuite, sur la base de la formulation sous forme fermée, nous avons proposé deux nouvelles techniques pour améliorer encore les résultats de l'analyse de testabilité. Nos résultats expérimentaux ont montré une amélioration par rapport aux résultats de TAIR.

Publication
IEICE TRANSACTIONS on Fundamentals Vol.E85-A No.12 pp.2901-2912
Date de publication
2002/12/01
Publicisé
ISSN en ligne
DOI
Type de manuscrit
PAPER
Catégories
Technologie de conception VLSI et CAO

Auteurs

Mots-clés

Table des matières