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Electrical Characterization of Hole Transport Materials Using In-situ Field Effect Measurement Caractérisation électrique des matériaux de transport de trous à l'aide In situ Mesure de l'effet de champ

Masaaki IIZUKA, Masakazu NAKAMURA, Kazuhiro KUDO, Kuniaki TANAKA

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Résumé:

Nous avons étudié les propriétés électriques de matériaux de transport de trous tels que TPD, α-NPD et m-MTDATA en utilisant in situ mesure de l'effet de champ. Les films TPD, α-NPD et m-MTDATA ont montré des propriétés semi-conductrices de type p et leurs paramètres électriques tels que la conductivité, la mobilité des porteurs et la concentration des porteurs ont été obtenus. Nous avons également examiné l'effet de la température du substrat lors du dépôt sous vide et du traitement thermique après dépôt, sur les paramètres électriques des films. Les résultats expérimentaux ont montré que la conductivité et la mobilité des porteurs diminuaient à mesure que la température du substrat augmentait par rapport à la température de transition vitreuse. Ces diminutions de conductivité et de mobilité des porteurs résultant du traitement thermique semblent être fortement liées au mécanisme de dégradation des dispositifs électroluminescents organiques.

Publication
IEICE TRANSACTIONS on Electronics Vol.E85-C No.6 pp.1311-1316
Date de publication
2002/06/01
Publicisé
ISSN en ligne
DOI
Type de manuscrit
Special Section PAPER (Special Issue on Recent Progress in Organic Molecular Electronics)
Catégories
Fabrication et caractérisation de couches minces

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