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Modified EEPRML with 16/17 (3;11) MTR Code and Cyclic Redundancy Check Code for High Density Magnetic Recording Channels EEPRML modifié avec code MTR 16/17 (3 ; 11) et code de contrôle de redondance cyclique pour les canaux d'enregistrement magnétique haute densité

Seiichi MITA, Hideki SAWAGUCHI, Takushi NISHIYA, Naoya KOBAYASHI

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Résumé:

Trois idées de base pour améliorer les performances de l'EPRML étendu (EEPRML) sont décrites en détail. Le premier est la modification de la réponse impulsionnelle EEPRML afin de minimiser le taux d'erreur sur les bits des signaux de lecture des canaux d'enregistrement magnétique. Cette modification peut améliorer le rapport signal sur bruit (S/N) du maximum de vraisemblance de réponse partielle étendue conventionnelle (EPRML) d'environ 1 dB. La seconde est l’introduction du code d’exécution de transition (MTR) maximum 16/17 (3 ; 11). Ce code peut éliminer complètement les événements d'erreur de plus de quatre bits consécutifs des événements d'erreur EEPRML modifiés et réduire d'un huitième la probabilité que des événements d'erreur de distance minimale se produisent. Enfin, les événements d'erreur dominants tels que {0e0}, {0ee0}, {0eee0} et {0e00e0} avant le décodage MTR du 16/17 (3,11) peuvent être corrigés en utilisant un code de contrôle de redondance cyclique (CRCC) avec décodage par décision douce. . Le symbole « e » représente une erreur sur un bit, à savoir « 1 » à « 0 » ou vice versa et « 0 » représente un bit correct. Les performances totales ont été évaluées par des simulations informatiques utilisant une forme d'onde isolée similaire aux signaux de lecture réels et un bruit gaussien blanc additif. Par conséquent, il a été confirmé qu'EEPRML modifié avec le code MTR 16/17 (3;11) et CRCC peut améliorer la S/N de l'EPRML conventionnel d'environ 4 dB avec un taux d'erreur binaire de 10-6.

Publication
IEICE TRANSACTIONS on Electronics Vol.E82-C No.12 pp.2201-2208
Date de publication
1999/12/25
Publicisé
ISSN en ligne
DOI
Type de manuscrit
Special Section INVITED PAPER (Special Issue on Information Storage Technologies for the 21st Century)
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