La fonctionnalité de recherche est en construction.
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A Single Input Change Test Pattern Generator for Sequential Circuits Un générateur de modèles de test de changement d'entrée unique pour les circuits séquentiels

Feng LIANG, ShaoChong LEI, ZhiBiao SHAO

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Résumé:

Une technologie optimisée d’auto-test intégré est proposée dans cet article. Un modèle algébrique simplifié est développé pour représenter les configurations de circuits de changement à entrée unique. Une nouvelle technique de génération de séquence de changement à entrée unique est conçue. Il se compose d'un registre à décalage de balayage modifié, d'un réseau de stockage de graines et d'une série de portes XOR. Ce circuit peut générer automatiquement des séquences de changement d'entrée unique de vecteurs plus uniques. Les résultats expérimentaux basés sur le benchmark ISCAS-89 montrent que la méthode proposée peut atteindre une couverture élevée des défauts bloqués avec une faible activité de commutation pendant les applications de test.

Publication
IEICE TRANSACTIONS on Electronics Vol.E91-C No.8 pp.1365-1370
Date de publication
2008/08/01
Publicisé
ISSN en ligne
1745-1353
DOI
10.1093/ietele/e91-c.8.1365
Type de manuscrit
PAPER
Catégories
Matériaux et dispositifs semi-conducteurs

Auteurs

Mots-clés

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