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Micro-Structural Study of Fretting Contact Caused by the Difference of the Tin Plating Thickness Étude microstructurelle du contact de frettage provoqué par la différence d'épaisseur d'étamage

Tetsuya ITO, Shigeru SAWADA, Yasuhiro HATTORI, Yasushi SAITOH, Terutaka TAMAI, Kazuo IIDA

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Résumé:

Ces dernières années, la demande de miniaturisation des connecteurs de faisceaux de câbles dans les automobiles a augmenté en raison du volume croissant d'équipements électroniques et de la réduction de l'espace d'installation alloué aux équipements électroniques dans les automobiles pour le confort des passagers. Avec cette demande, la défaillance des contacts provoquée par la corrosion de contact devrait devenir un problème sérieux. Dans ce rapport, nous avons examiné les observations microstructurelles de contacts de contact de deux épaisseurs différentes d'étamage en utilisant la microscopie électronique à balayage (MEB) et la microscopie électronique à transmission (TEM), etc. Sur la base des résultats, nous avons comparé la différence de microstructure du contact de frettage provoquée par la différence d’épaisseur de placage d’étain.

Publication
IEICE TRANSACTIONS on Electronics Vol.E91-C No.8 pp.1199-1205
Date de publication
2008/08/01
Publicisé
ISSN en ligne
1745-1353
DOI
10.1093/ietele/e91-c.8.1199
Type de manuscrit
Special Section PAPER (Special Section on Recent Development of Electromechanical Devices(Selected Papers from IS-EMD2007))
Catégories
Phénomènes de contact

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